Das JEOL Neoscope - Benchtop-Rasterelektronenmikroskop wurde entwickelt, um ein sehr einfach zu bedienendes REM mit intuitiver Navigation und Echtzeit-Elementeanalyse anzubieten.
Schnellere Messergebnisse mit dem AFM der Tosca-Serie
Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
Schnellere Messergebnisse mit dem AFM der Tosca-Serie
Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
External view of the SU9000 in-lens cold-field emission XHR SEM. To allow practical usage of the electron optical power, the optics system has been en...
ZeGage ist das ideale berührungslose optische Profilometer für quantitative 3D-Messungen von Form und Rauheit feinst bearbeiteter Oberflächen. Der k...
Verbessern Sie Ihre Inspektionsleistung mit der überragenden Klarheit der 4K-Bildauflösung, die für eine Vielzahl komplexer und kontrastreicher Anwend...
Ein innovatives Benchtop-Spektralphotometer mit benutzerfreundlichen Funktionen und einem großen Onboard-Display. Das CM-5 ist ein Benchtop-Spektralph...
Schnelle und genaue Spektralmessungen
UV/VIS-Excellence-Spektralphotometer vereinen die herausragende optische Leistung der FastTrack™ Technologie mi...
Exzellente Bildqualität dank CeB6 Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
Desktop-REM für große Proben bis 100 mm x 100mm, 6...
Schnelle und genaue Spektralmessungen
UV/VIS-Excellence-Spektrometer vereinen die herausragende optische Leistung der FastTrack™ Technologie mit der ...
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